English
Kazakh
Português (Brasil)
Русский
简体中文
Poverhnostʹ. Rentgenovskie, sinhrotronnye i nejtronnye issledovaniâ
ISSN 1028-0960 (Print)
Мәзір     Мұрағат
  • Бастапқы
  • Журнал туралы
    • Редакция тобы
    • Редакция саясаты
    • Авторларға арналған ережелер
    • Журнал туралы
  • Шығарылымдар
    • Іздеу
    • Ағымдағы шығарылым
    • Ретракцияланған мақалалар
    • Мұрағат
  • Байланыс
  • Жазылу
  • Барлық журналдар
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
  • Категориялар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер X-ray diffraction X-ray photoelectron spectroscopy atomic force microscopy channeling electron microscopy ion implantation irradiation magnetron sputtering microstructure nanoparticles neutron reflectometry optical properties phase composition scanning electron microscopy silicon structure surface surface morphology synchrotron radiation thin films zinc oxide
Ағымдағы шығарылым

№ 3 (2025)

Ақпарат
  • Оқырмандар үшін
  • Авторларға
  • Кітапханалар үшін
×
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
  • Категориялар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер X-ray diffraction X-ray photoelectron spectroscopy atomic force microscopy channeling electron microscopy ion implantation irradiation magnetron sputtering microstructure nanoparticles neutron reflectometry optical properties phase composition scanning electron microscopy silicon structure surface surface morphology synchrotron radiation thin films zinc oxide
Ағымдағы шығарылым

№ 3 (2025)

Ақпарат
  • Оқырмандар үшін
  • Авторларға
  • Кітапханалар үшін
Бастапқы > Іздеу > Автор туралы ақпарат

Автор туралы ақпарат

Бондаренко, Г. Г.

Шығарылым Бөлім Атауы Файл
№ 1 (2023) Articles Change in the Charge State of MOS Structures with a Radiation-Induced Charge under High-Field Injection of Electrons
№ 1 (2023) Articles Changes in the Morphology and Strength Properties of the Vanadium Surface under the Influence of Helium Ions and Pulsed Laser Irradiation
№ 1 (2023) Articles Modeling of the Influence of Temperature on the Emission Properties of a Cathode with a Thin Insulating Film in a Glow Gas Discharge and the Discharge Voltage–Current Characteristic
№ 3 (2024) Articles Modeling of the influence of field electron emission from a cathode with a thin insulating film on its sputtering in a gas discharge in a mixture of argon and mercury vapor
№ 8 (2024) Articles Influence of Pulsed Beam-Plasma Impact on a Tungsten–Copper Pseudoalloy in the Plasma Focus Device
№ 1 (2025) Articles Influence of Non-Uniform Thickness of Insulating Film along the Cathode Surface on its Heating in a Glow Gas Discharge
 

 

Developed by ECO-VECTOR

 

Powered by EVESYST

TOP