Автор туралы ақпарат
Sakharov, А. V.
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| № 12 (2024) | Articles | Effect of radiation-induced defects in gallium and nitrogen lattices on n-GaN conductivity compensation |
Пайдаланушы
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
X-ray diffraction
X-ray diffraction analysis
X-ray photoelectron spectroscopy
compact neutron source
density functional theory
electron microscopy
ion implantation
irradiation
magnetron sputtering
microstructure
neutron reflectometry
phase composition
scanning electron microscopy
scanning probe microscopy
silicon
structure
surface
surface morphology
synchrotron radiation
thin films
zinc oxide
Ағымдағы шығарылым
№ 1 (2025)
×
Пайдаланушы
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
X-ray diffraction
X-ray diffraction analysis
X-ray photoelectron spectroscopy
compact neutron source
density functional theory
electron microscopy
ion implantation
irradiation
magnetron sputtering
microstructure
neutron reflectometry
phase composition
scanning electron microscopy
scanning probe microscopy
silicon
structure
surface
surface morphology
synchrotron radiation
thin films
zinc oxide
Ағымдағы шығарылым