Synchronized Detection of X-Ray and Secondary Fluorescent Radiation of a Sample by Monophoton Sensors

A. P. Kalinin; Калинин А. П.; V. V. Egorov; Егоров В. В.; A. I. Rodionov; Родионов А. И.; I. D. Rodionov; Родионов И. Д.; I. P. Rodionova; Родионова И. П.

doi:10.31857/S0207401X23070087

Synchronized Detection of X-Ray and Secondary Fluorescent Radiation of a Sample by Monophoton Sensors

Autores: Kalinin A.P.¹, Egorov V.V.², Rodionov A.I.³, Rodionov I.D.³, Rodionova I.P.³
Afiliações:
1. Ishlinsky Institute for Problems in Mechanics, Russian Academy of Sciences
2. Space Research Institute, Russian Academy of Sciences
3. Semenov Federal Research Center for Chemical Physics, Russian Academy of Sciences
Edição: Volume 42, Nº 7 (2023)
Páginas: 17-22
Seção: XXXIV СИМПОЗИУМ “СОВРЕМЕННАЯ ХИМИЧЕСКАЯ ФИЗИКА” (СЕНТЯБРЬ 2022 г., ТУАПСЕ)
URL: https://cijournal.ru/0207-401X/article/view/674848
DOI: https://doi.org/10.31857/S0207401X23070087
EDN: https://elibrary.ru/YBPOIC
ID: 674848

Citar

Texto integral

Acesso aberto
Acesso é fechado

Acesso está concedido
Acesso é fechado

Somente assinantes

Resumo
Sobre autores
Bibliografia
Arquivos suplementares
Estatísticas

Resumo

The structure of a device designed to detect X-ray and optical photons ascending from a sample irradiated with synchrotron radiation or X-ray tube radiation and the principles of its operation are described. The operation of the device consists of determining the delay time of the specified optical photons relative to the X-ray photons. Block diagrams of the main components of the device, outlining the principles of their operation, are given: a monophoton X-ray sensor, a monophoton optical sensor, and a unit for determining the time delay. The areas of scientific and applied use of information obtained with the help of the considered device are indicated.

Palavras-chave

X-ray radiation, fluorescence, photon, photocathode, time delay, microchannel plate, sync pulse

Bibliografia

Андреев П.В., Трушин В.Н., Фаддеев М.А. Рентгеновский фазовый анализ поликристаллических материалов. Н. Новгород: Нижегородский ГУ, 2012.
Анфимов Д.Р., Голяк Иг.С., Небритова О.А., Фуфурин И.Л. // Хим. физика. 2022. Т. 41. № 10. С. 10.
Матвеева И.А., Шашкова В.Т., Любимов А.В. и др. // Хим. физика. 2019. Т. 38. № 9. С. 30.
Гласкер Дж.П., Трублад К.Н. Анализ кристаллической структуры. М.: Мир, 1974.
Чижов П., Левин Э., Митяев А., Тимофеев А. Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции. М.: МФТИ, 2011.
Синицын Д.О., Лунин В.Ю., Грум-Гржимайло А.Н. и др. // Хим. физика. 2014. Т. 33. № 7. С. 21.
Жорин В.А., Киселев М.Р., Мухина Л.Л., Пуряева Т.П., Разумовская И.В. // Хим. физика. 2008. Т. 27. № 2. С. 39.
https://vk.com/@luconpro-vse-o-metode-rentgenofluorescentnogo-analiza-rfa-kak-eto-rab
Черноруков Н.Г., Нипрук О.В. Теория и практика рентгенофлуоресцентного анализа. Электронное учебно-методическое пособие. Н. Новгород: Нижегородский ГУ, 2012.
Belov A.A., Korovin N.A., Rodionov A.I. et al. // Automation Remote Control. 2014. V. 75. № 8. P. 1479.
Родионов И.Д., Родионов А.И., Родионова И.П. и др. // Хим. физика. 2019. Т. 38. № 11. С. 1; https://doi.org/10.1134/S0207401X19070136
Родионов А.И., Родионов И.Д., Родионова И.П. и др. // Хим. физика. 2021. Т. 40. № 10. С. 61; https://doi.org/10.31857/S0207401X21100113